高熱驚厥預后情況與如下幾個因素有關(guān)：

    1. 發(fā)作持續(xù)時間。高熱驚厥發(fā)作10分鐘以上可能造成神經(jīng)細胞損害，30分鐘以上則半數(shù)將遺留不同程度的神經(jīng)功能障礙。

    2. 發(fā)作次數(shù)。發(fā)作次數(shù)越多，預后越差，復發(fā)10次以上者有半數(shù)預后不良。

    3. 初發(fā)年齡。1歲以內(nèi)發(fā)作者，預后較差，因這一時期腦代謝旺盛，易致代償不全面影響神經(jīng)功能。

    4. 如果發(fā)作前已有神經(jīng)系統(tǒng)異常者往往預后較差，有人認為約45%將遺留智力低下。

    5. 家族史。家族中有驚厥發(fā)作患者，日后轉(zhuǎn)為癲癇的可能性大。

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